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EDAX

Orbis 微聚焦X-射线荧光能谱分析系统

Orbis 微聚焦X-射线荧光能谱分析系统
  • 型号Orbis
  • 品牌EDAX

详细描述

新一代Orbis聚焦型扫描X-射线荧光能谱仪也称荧光探针,采用聚焦X射线照射,光路系统采用正置式,可在大气压力或低真空环境下检测样品。该仪器可进行视频图象采集和图象拼接,微区及整体成分的定性定量分析,以及线、面元素的分布分析,检测极限为ppm级。

主要特点

1.样品范围宽:液体,磁性,绝缘体,少量粉末等。 
2.样品尺寸大:块状样品可达270x270x100mm(大样品室型则
  更大)。 
3.焦点小,可进行点、线、面的分布分析。 
4.能量利用率高,X光管功率小,维护简便。 
5.无损检测,使用方便,自动化程度高。 
6.工作距离长。便于进行非平坦样品的分析。 
7.可应用于材料研究、生物医学、司法鉴定、文物保护与鉴
  定、环境保护等多领域。 
8.丰富的软件不仅满足定性、定量和元素分布分析,还可以进
  行涂镀层厚度、合金分析、检索与分类分析以及RoHS、
  WEEE的检测等。
1.微聚焦X光管最大功率50kV,50W, 1.0mA 
2.试样上X光聚焦点直径300um、100um、30um、
  20um及连续可变 
3.自动发射束滤波系统(包括全开、关闭和6个滤
  片,共8个位置)
4.10x及100x(300x)彩色CCD摄像头 
5.样品室尺寸标准型:直径360mm,高310mm(大样
  品室型为700x700x700mm) 
6.自动样品台行程100x100x100mm(大样品室型为
  300x300x100mm)
7.标准精度计算机控制的XYZ样品台
8.样品台载重量: 5Kg,10Kg(大样品室)
9.可以在真空下或大气压下进行检测
10.可以进行单点或给定多点的自动分析 
11.可以进行单视域或多视域组合的元素分布分析
  (面扫描与线扫描) 
12.可以进行超越单视域的元素分布分析(在组合
  视域中选择单幅元素分布分析范围)

 

点击次数:  更新时间:2018-03-14 11:11:26  【打印此页】  【关闭